JTAG/测试支持-8路继电器模块原理图

第20章 JTAG/测试支持

20.1 概述

MPC8349E提供了一个JTAG（联合测试行动小组）接口以方便边界扫描测试。JTAG接口符合IEEE 1149.1边界扫描标准。想了解更多关于JTAG操作的信息，可以参考IEEE 1149.1标准。这一标准的详细内容在很多技术文献中都有描述，例如IEEE1149.1JTAG和边界扫描结构和IEEE1149.1标准。

JTAG接口由5个信号、3个JTAG寄存器（参见20.3节“JTAG寄存器与扫描链”）和一个测试访问口（TAP）控制器组成，这将在下面的几节中描述。

20.2 JTAG信号

MPC8349E提供以下5个专用的JTAG信号：

• 测试数据输入（TDI）

• 测试数据输出（TDO）

• 测试模式选择（TMS）

• 测试复位（TRST）

• 测试时钟（TCK）

TDI和TDO信号用来向JTAG扫描寄存器输入和输出指令和数据。TAP控制器利用从TMS信号接收的指令进行操作。如果你想深入研究这些信号的工作原理，不妨看看IEEE std1149.1JTAG testability这篇文献，或者通过IEEE1149.1标准了解更多详细信息。

这些信号的配合工作，如同一场精密的舞蹈，默契又准确，确保每一步都在正确的时间点进行。而你，只需稍加留意，就能发现它们的美妙之处！是不是很有趣呢？学习JTAG信号，不仅能提升你的技术水平，还能让你感受到技术的奇妙魅力。