集成电路逻辑功能测试实验

一、实验目的： 1）熟悉Multisim软件的使用方法。 2）掌握集成逻辑门的逻辑功能。 3）掌握集成与非门的测试方法。 二、实验环境： 1）硬件：计算机 2）软件：Multisim 三、实验原理： TTL集成电路的输入端和输出端均为三极管结构，称为三极管逻辑电路（Transistor-Transistor Logic），简称TTL电路。54系列和74系列的TTL电路具有相同的电路结构和电气性能参数，仅在工作温度范围和电源允许范围上有所不同。54系列工作环境温度规定为-55—±125℃，电源电压工作范围为5V±10%V。74系列的工作环境温度规定为0—70℃，电源电压工作范围为5V±5%V。 不同系列的TTL器件中，只要型号的后几位数码相同，它们的逻辑功能、外形尺寸、引脚排列完全相同。 TTL集成电路以其高工作速度、大输出幅度和多样的种类而受到广泛应用。