逻辑功能测试或门电路测试设计

本选题结合51单片机稳定可靠的特点，研究以51单片机作为主控芯片的TTL芯片逻辑门电路的设计并测试负载三极管特性参数。设计的目的是为了可以完成对74系列IC芯片逻辑功能或门电路的测试。以从验证的角度分析，只要我们能够完成对74系列中的几种芯片逻辑功能或门的测试，那么应用这个原理，依此继续开发，便可以完成对整个系列芯片逻辑功能的测试和其负载特性参数的测试。