【技术应用笔记】高速ADC测试和评估

应用范围本应用笔记将介绍ADI公司高速转换器部门用来评估高速ADC的特征测试和生产测试方法。本应用笔记仅供参考,不能替代产品数据手册。动态测试硬件设置SNR、SINAD、最差杂散和IMD均通过类似于图1的硬件设置进行测试。在生产测试中,测试硬件均高度集成,但硬件原理都是一样的。动态测试的基本设置包括一个信号发生器、带通滤波器、测试夹具、低噪声电源、编码源(通常FIFO板可通过一根标准USB线连接至个人计算机,并配合ADC Analyzer软件对高速ADC的性能进行快速评估。用户可以查看特定模拟输入和时钟速率的快速傅立叶变换(FFT),并对信噪比(SNR)、信纳比(SINAD)、无杂散动态范围(SFDR)和谐波数据进行分析。FIFO板有单通道和双通道两种版本可供选择。对于某一特定ADC该选择哪一版本的决定,请参阅FIFO数据手册。LVDS和串行输出器件可能需要附加一块称为HSC-ADC-FPGA的适配板。这些会在产品数据手册中特别说明。有关HSC-ADC-FPGA串行LVDS适配板、FIFO以及ADC Analyzer软件工作原理的更AN-835应用笔记One Technology WayP.O.B ox9106Norwood,MA02062-9106Tel:781/329-4700Fax:781/326-8703www.analog.com高速ADC测试和评估作者:Brad Brannon和Rob Reeder应用范围FIFO板可通过一根标准USB线连接至个人计算机,并配合