解析G652D光纤宏弯损耗测试方法的实践及数据

2010年11月9日消息,光纤宏弯损耗测试,在国家标准GB/T9771.3-2008中描述:光纤以30mm半径松绕100圈,在1625nm测得的宏弯损耗应不超过0.1dB. 而注2中描述:为了保证弯曲损耗易于测量和测量准确度,可用1圈或几圈小半径环光纤代替100圈光纤进行试验,在此情况下,绕的圈数环的半径和允许的弯曲损耗都应该选的与30mm半径100圈试验的损耗值相适应。 单模光纤损耗主要包括内部的本征损耗和吸收损耗,同时也受加工绞合、铺设、接头等使用过程中的弯曲影响。随着光纤使用场合的扩大,特别是在局域网络及室内等复杂场合的广泛使用,有必要对光纤弯曲特性进行研究,以明确光纤弯曲特性。