G652D光纤宏弯损耗测试方法的实践及数据分析

Name: G652D光纤宏弯损耗测试方法的实践及数据分析
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Author: vvv94139vvv94139

上传者：vvv94139vvv94139 2020-10-28 06:20:57上传 PDF文件 210KB 热度 24次

2010年11月9日消息,光纤宏弯损耗测试,在国家标准GB/T9771.3-2008中描述:光纤以30mm半径松绕100圈,在1625nm测得的宏弯损耗应不超过0.1dB。

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G652D光纤宏弯损耗测试方法的实践及数据分析

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