各向异性晶体的平板负折射成像研究

利用折射率椭球理论研究了各向异性晶体的平板负折射成像。研究结果表明:单轴晶体的负折射现象是由晶体的光学各向异性所引起的,属于单轴晶体的本质特性;单轴晶体的切角和双折射率是产生负折射的关键因素;各向异性晶体在一定的前提条件下可以实现平板负折射二次成像。最后通过钒酸钇(YVO4)和方解石(CaCO3)晶体对这套理论进行了实验验证。