偏振态显微成像技术用于各向异性晶体生长的研究

将偏振态显微成像技术应用于各向异性晶体生长的成像研究。以物体的偏振态作为物理量进行成像, 将描述偏振态的3个Stokes参量转换成RGB三基色, 实现用RGB的偏振色度值来表征相应的偏振态。在此基础上, 利用共焦显微成像系统对物体进行逐点扫描, 获得各向异性物体Stokes参量的空间分布, 然后通过偏振色度值的分布来表征物体偏振态的空间分布。实验结果表明, 偏振态显微成像技术能够直观地反映物体的全部偏振信息, 有效地区分两种材料相同但内部结构排列不同的样品, 通过观察晶体生长过程中各向异性的变化, 为研究晶体的生长过程提供一种新的可视化方法。