基于光热失谐技术的光学薄膜吸收均匀性研究

光学组件(尤其是光学涂层)中的吸收损耗是高功率激光应用中的限制因素。 随着大直径光学器件的广泛使用,光学涂层的均匀性变得越来越重要。 本文首次开发了用于光学薄膜吸收均匀性测量的光热失谐技术。 使用在514 nm中使用的高反射涂层进行实验,以测量光热失谐信号,并通过使用1500 nm的探测光束检测光谱偏移来评估514 nm处的吸收波长为632.8 nm。 样品表面上不同点的相对吸收可以通过二维移动样品来测量,我们使用测量数据来制作吸收图像。 结果表明,设计的实验系统可用于分析光学涂层的吸收均匀性。 所获得的图像反映了样品Kong的吸收均匀性。 在此实验中分析的两个样品的吸收均匀度不同。 涂在熔融