用三维全光照相显微术检查集成电路 上传者：玉符天启 2021-02-21 20:00:11上传 PDF文件 793.66KB 热度 6次 美帝国家航空和宇宙航行局的官员认为,在五年之内,用于太空任务的每一个电路都有可能用今天还不能实现的无损显微技术作精密检查。该局的电子学研究中心正在研究两种无损屏蔽集成电路的工具:全光照相显微术和扫描电子反射镜显微术。 下载地址 用户评论 更多下载 下载地址 立即下载 收藏 腾讯 微博 用户评论 发表评论 玉符天启 资源：431 粉丝：0 +关注 上传资源 免责说明 本站只是提供一个交换下载平台，下载的内容为本站的会员网络搜集上传分享交流使用,有完整的也有可能只有一分部,相关内容的使用请自行研究,主要是提供下载学习交流使用,一般不免费提供其它各种相关服务! 本站内容泄及的知识面非常广,请自行学习掌握,尽量自已动脑动手解决问题,实践是提高本领的途径,下载内容不代表本站的观点或立场!如本站不慎侵犯你的权益请联系我们,我们将马上处理撤下所有相关内容！联系邮箱：server@dude6.com
