为了测量Z箍缩等离子体X射线的空间分辨光谱, 利用椭圆聚焦原理, 研制了一种椭圆晶体谱仪。以Si(111)椭圆弯晶作为色散分析元件, 椭圆的离心率为0.9480, 焦距为1348 mm, 布拉格角范围为30°~54°, 谱线探测角范围为54°~103°, 探测的波长范围为0.31~0.51 nm。设计了半径为50 mm的半圆型胶片暗盒, 内装胶片接收光谱信号。分析了椭圆的弥散度对光谱分辨率的影响。在“阳”加速器装置上进行摄谱实验,胶片成功获取了氩喷气等离子体X射线的跃迁光谱, 实测谱线分辨率(λ/Δλ)达300~500,波长与理论值吻合。
