基于条纹对比度和背景光校准的正交复合光三维测量方法

提出了一种对条纹对比度和背景光进行校准的正交复合光三维测量方法。从参考平面的复合光栅像中解调获得各帧相移正弦条纹, 通过频域滤波的方法获取条纹的零频和基频分量, 计算出各帧相移正弦条纹相对第一帧正弦条纹的对比度和背景光比例系数, 并以此系数对实物测量时解调出来的各帧变形条纹对比度和背景光进行校准, 建立了新的三维测量数学模型。实验证明该方法能降低传统正交复合光三维测量方法中的解相误差, 提高系统的测量精度。