基于扫描的电路设计 上传者：千山寒 2021-01-15 05:46:26上传 PDF文件 192.24KB 热度 40次 经过改进后的基于扫描的测试架构,用向量压缩来减少测试时间,并且将Test—Per-Scan的测试方式改成了Test—Per-Clock的测试方式,加快了测试的速度。 下载地址 用户评论 更多下载 下载地址 立即下载 用户评论 发表评论
