一种改进的基于扫描的电路设计

为了确保芯片在制作完成后的正确性,有关电路测试的这个问题越来越受重视。而且其测试的难度及成本也越来越高,于是如何有效地检验电路的正确性,并大幅度地降低测试成本,成为我们现在研究的热点。通常我们在设计芯片的同时,可以根据芯片本身的特征,额外地把可测性电路设计(Design For TESTability)在芯片里。谈到可测性的电路设计,内建自测试(BIST)和基于扫描Scan—Based)的电路设计是常被提及的。