电子测量中的集成电路引线焊接无损检测技术的研究

1 引 言 研究和寻找集成电路引线焊接质量的无损检测方法一直是大家所关心的问题。传统检查焊接质量的方法是用机械力推(或拉)动测试,但它已不适应输入/输出端点多达300个以上,引线间距小于0.1mm的集成电路引线焊接质量的检测,且检测为破坏性,不足之处显而易见。激光扫描声学显微镜(简称SLAM)作为一种超声无损检测新技术,由于能给出被测物体内部结构的声显微图像,反映出被测物体的机械弹性参数分布,故应用广泛。本文分析了SLAM用于集成电路引线焊接无损检测的一些设计参数和技术指标,通过对我们已有的国内首创的SLAM实验系统的改造,对一些集成电路引线焊接进行了模拟性实验并探测到焊接质量的缺陷。2