一种改进的嵌入式存储器测试算法

摘要 基于一种适合于测试静态简化故障的March SS算法,提出了一种改进的嵌入式随机存取存储器测试算法-March SSE算法。该算法在测试长度不变的情况下,不仅能测出March SS算法所测试的全部的功能故障,而且还能检测出March SS算法所遗漏的固定开路故障,以及大部分的动态故障,故障覆盖率得到了大幅度地提高。 关键词 故障原语,静态故障,动态故障,存储器测试,故障覆盖率 1 引言 随着深亚微米VLSI技术的发展,大量的不同厂家的电路设计或核集成到一个芯片上。存储器密度的增长使存储器的测试面临着更大的挑战。嵌入式RAM存储器是最难测试的电路,因为存储器的测试通常需要