新型的嵌入式存储器测试算法 上传者：洁vs有 2020-08-09 08:10:50上传 PDF文件 76KB 热度 38次 针对目前嵌入式存储器测试算法的测试效率与故障覆盖率难以兼得的现状,提出了兼顾二者的测试算法。实验结果表明该算法最适合对存储器进行大批量的测试。在测试效率上的优势很明显,故障覆盖率也能达到应用标准。 下载地址 用户评论 更多下载 下载地址 立即下载 用户评论 发表评论
