单片机与DSP中的基于故障重现的单片机系统设计

引言 为研究电磁脉冲对计算机系统的干扰和破坏机理,利用GTEM室等大型装置产生的模拟核电磁脉冲为照射源,对计算机系统进行辐照效应实验。为了有效地研究计算机系统的电磁脉冲效应,需要专门用于电磁脉冲效应实验、具有故障重现功能的单片机系统。本文介绍了该系统的组成和原理,并给出了将该系统用于电磁脉冲效应实验的结果。 电磁脉冲辐照效应实验方法 电磁脉冲对电予系统的辐照效应实验方法,简单地说就是将被测电子系统置于电磁脉冲辐射场中,接受电磁脉冲的照射,研究被测系统在电磁脉冲照射下受干扰、损伤的情况。 实验配置如图1所示。主要由吉赫横电磁波传输室(GTEM Cell)、Marx发生器、控制台和被试系统