1. 首页
  2. 移动开发
  3. 其他
  4. 电子测量中的高速逻辑分析仪探测

电子测量中的高速逻辑分析仪探测

上传者: 2020-12-13 06:42:28上传 PDF文件 81.67KB 热度 23次
在过去几十年中,数字设计人员一直把逻辑分析仪作为系统检验的主要工具。近年来,随着时钟速率的加快,迫使设计人员不得不考虑系统所有部分的信号完整性,包括测试能力。逻辑分析仪探头已不再象以往那样任意连接到系统上,就能够保证成功,而是必须考察探头位置、负荷及与传输线的邻近程度等因素。本文考察了在探测高速数字系统时设计人员遇到的部分常见问题和探头的负荷模型以及探测位置的影响。最后,本文还讨论了把探头连接到高速系统最常用的技术:短线探测和阻尼电阻器探测。图 1 简化的逻辑分析仪探头负荷模型逻辑分析仪探头的负荷模型任何类型探头的目标都是尽可能对系统提供最小的电负荷。如果探头对系统性能的影响太大,那么探头将
用户评论