元器件应用中的利用单片机消除热电阻测量误差

利用单片机消除热电阻测量误差 张学峰江苏食品职业技术学院机电工程系 江苏淮安 223001 半导体热电阻结构简单,其电阻值大,反应速度快,灵不受外界的影响,但是正常采用的热敏电阻是具有负温度特性的非线性元器件,且输出电势比较小,必须经过放大才能满足ADC的输入要求,放大电路的误差主要来源于放大器的失调电压和增益Av的漂移,本文介绍单片机对上述测量误差进行修正的方法。1 对半导体热敏电阻非线性的影响热敏电阻负温度特性的非线性,其关系如下:Rr=AEB/T 此非线性使得他很难用相关的电路来进行补值,在使用有微处理器的系统中很好的解决这个问题。实践证明因电路的离散性直接使用此公式的误差很大,使