元器件应用中的精确低电阻测量从识别误差源开始

低电阻(1Ω及以下)的测量面临各种技术挑战。根据应用的不同,人们在构建测试系统时可以选择不同的仪器选件,包括配合电流源使用的纳伏计(用于测量低至几十纳欧的电阻),或者针对低电阻测量(可测量低至几十微欧的电阻)而优化的数字万用表(DMM)。 低电阻测量包含很多与低电压测量相同的误差源,包括由于热电EMF产生的偏移电压,射频干扰(RFI)整流产生的偏移,以及所选仪器伏特计输入电路中的偏移。干扰低电阻测量精度的噪声源包括约翰逊噪声、磁场和地环。过大的共模电流(流经仪器LO端和机架或大地之间的电流)也会影响低电阻的测量精度。低电阻的测量包含诸如引线电阻、非欧姆接触和器件发热之类的误差源。本文旨在