嵌入式系统/ARM技术中的设计合理的高速总线测试方法

就在几年前,许多设计工程师还在苦苦挣扎于步履沉重的总线和I/O速度,而每12~18个月各种处理器的运行速度就增加一倍。而后,几乎是一夜之间,总线和I/O技术开始发生变化。速度加倍,而后又增加一倍。紧接着,如源同步时钟等新型解决方案和低压差分信号(LVDS)的小数据有效窗带来的挑战,使测量、验证和确认比以往更为重要。而带来此性能提高的完全相同的力量,也使插入测试设备变得更具有侵略性。 但现在已有新的工具和方法,可尽量减少对设计的影响。然而,现在必须在设计的最初阶段就仔细地对测试进行规则。如今不再有可能建造一个原型,而后简单地在线上进行焊接以连接示波器或逻辑分析仪,测试方法必须