模拟技术中的DDS信号源在扫频测试中的应用

电子设计中经常碰到的问题是对待测电路(DUT)传输特性的测试,这里所说的传输特性包括增益和衰减、幅频特性、相位特性和时延特性等,而最常见的就是DUT的幅频特性。 最初,对于DUT的幅频特性的测试是在固定频率点上逐点进行。这种测试方法繁琐、费时,且不直观,有时还会得出片面的结果。例如,测量点之间的谐振现象和网络特性的突变点常常被漏掉。 DDS(DirectDigitalSynthesis)技术是1971年3月由美国学者J.TIerncy,C.M.Rader和B.Gold提出,这是一种从相位概念出发直接合成所需要波形的全数字频率合成技术,原理框图如下: 图表 1DDS技术原理