基础电子中的电容 电压测量技术、技巧与陷阱(下)

刊登在上一期的《电容-电压(C-V)测量技术与技巧(上)》,讨论了如何针对特定的应用选择最合适类型的C-V测量仪器,并探讨某些C-V测试的典型功能和参数提取限制、连接探针台以及校正探针尖的技巧。这里将探讨识别和校正典型C-V测试误差的方法。 常见C-V测量误差 偏移和增益误差(如图7所示)是C-V测量中最常见的误差。X轴以对数标度的方式给出了电容的真实值,大小范围从皮法到纳法。Y轴表示系统实际测量的值,包含测量误差。如果测量系统是理想的,那么所测出的值将与真实值完全匹配,可以画成一条具有45度角的直线,如图7中黑色的线所示。实际上,增益和偏移误差(蓝线和红线)总会存在因此必须进行校