元器件应用中的一种片内硬件调试支持单元设计

随着计算机体系结构的发展和半导体制造工艺的进步,单个芯片上可以集成更多的电路,如处理器、逻辑核、存储器核、模拟模块、RF 模块等,这些共同构成了单芯片系统,也就是常说的片上系统( System on Chip,SoC) 。片上系统的出现使得芯片可以实现更加复杂的功能,获取更高的性能,但同时其内部信号也变得越来越难以观察和控制,相应的测试和调试工作也遇到了难以克服的时间复杂性困难。国际半导体技术路线图( Internat io nal Technolo gy Roadmap for Semico nducto rs,IT RS) 指出,调试和定位问题所需要的时间将会随着工艺的进步呈指数型增长。由