RFID技术中的解决LTE手机射频信道衰落测试方案

随着全球蜂窝通信网络运营商逐步采用LTE,满足所有LTE要求的需求也在增长,其中包括衰落特性。第三代合作伙伴计划(3GPP) 在其TS 36.521-1标准中规定了衰落的技术规格,用以测量LTE手机的衰落特性。 传统衰落特性测试方法采用外部衰落模拟器和噪声源,通过常规射频测试设备修改信号。这种设备显着增加了整个测试系统的成本,并且需要额外的软件控制并协调各个仪器。本文将介绍一种创新的全数字衰落模拟方法,这种方法可极大减少增加贵重设备所产生的成本,同时提高测量精度并缩短测试时间。 模拟信号衰落 如图1所示,实际系统环境下,发射机与接收机之间存在无数条路径。显然,不可能模拟所有路