解决LTE手机射频信道衰落测试方案 上传者：fmhbol 2020-11-03 01:48:53上传 PDF文件 133.65KB 热度 55次 传统衰落特性测试方法采用外部衰落模拟器和噪声源,通过常规射频测试设备修改信号。这种设备显着增加了整个测试系统的成本,并且需要额外的软件控制并协调各个仪器。本文将介绍一种创新的全数字衰落模拟方法,这种方法可极大减少增加贵重设备所产生的成本,同时提高测量精度并缩短测试时间。 下载地址 用户评论 更多下载 下载地址 立即下载 用户评论 发表评论
