4200 SCS型半导体特性分析系统优化小电流测量
许多关键应用都需要能够测量小电流的能力——比如pA级或更小。这些应用包括确定FET的栅极漏流、测试敏感的纳米电子器件,以及测量绝缘体或电容的漏流。
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