实用模拟BIST的基本原则 上传者：yesovo 2020-10-28 06:27:58上传 PDF文件 179KB 热度 36次 20多年来,研究人员和半导体制造商一直在试图开发一种针对混合信号IC的实用模拟BIST(内置自检)。这种技术能够用数字测试仪作混合信号IC测试,以及简化的多址测试,从而能减少IC测试成本,以及IC上市时间。其它预期优点还有更快的测试开发,以及系统上的自检等。 下载地址 用户评论 更多下载 下载地址 立即下载 用户评论 发表评论
