浅谈实用模拟BIST的基本原则

20多年来,研究人员和半导体制造商一直在试图开发一种针对混合信号IC的实用模拟BIST(内置自检)。这种技术能够用数字测试仪作混合信号IC测试,以及简化的多址测试,从而能减少IC测试成本,以及IC上市时间。其它预期优点还有更快的测试开发,以及系统上的自检等。 大多数IC设计工程师都了解数字BIST的工作原理。它用一个LFSR(线性反馈移位寄存器)生成伪随机的位模式,并通过临时配置成串行移位寄存器的触发器,将这个位模式加到待测电路上。数字BIST亦用相同的触发器捕获响应,将移出的结果压缩成一个数字标志,再将其与一个正确的标志作逐位对比。 如果反馈函数f(a1,a2,a3,...an)是a1,