电子测量中的基于FPGA实现逻辑芯片的功能故障测试

在最原始的测试过程中,对集成电路(Integrated Circuit,IC)的测试是依靠有经验的测试人员使用信号发生器、万用表和示波器等仪器来进行测试的。这种测试方法测试效率低,无法实现大规模大批量的测试。随着集成电路的集成度和引脚数的不断增加,工业生产上必须要使用新的适合大规模电路测试的测试方法。在这种情况下,集成电路的自动测试仪开始不断发展。 现在国内的同类型产品中,一部分采用了单片机实现,这部分仪器分析速度慢,难以用于大规模的测试系统之中,并且在管脚的扩展性上受到严重的限制。另一部分使用了DSP芯片,虽然功能上较为完善,但造价不菲,实用性能有限。本文的设计是基于FPGA实现逻辑芯