起因于RTN的SRAM误操作进行观测并模拟的方法 上传者：baidu_30699 2020-10-28 02:25:48上传 PDF文件 288.78KB 热度 6次 瑞萨电子开发出了对起因于随机电报噪声(RTN:RandomTelegraphNoise)的SRAM误操作进行观测并实施模拟的方法。利用该方法可高精度地估计22nm以后尖端LSI中的RTN影响,适当设定针对RTN的设计余度。 下载地址 用户评论 更多下载 下载地址 立即下载 用户评论 发表评论 baidu_30699 资源：460 粉丝：0 +关注 上传资源 免责说明 本站只是提供一个交换下载平台，下载的内容为本站的会员网络搜集上传分享交流使用,有完整的也有可能只有一分部,相关内容的使用请自行研究,主要是提供下载学习交流使用,一般不免费提供其它各种相关服务! 本站内容泄及的知识面非常广,请自行学习掌握,尽量自已动脑动手解决问题,实践是提高本领的途径,下载内容不代表本站的观点或立场!如本站不慎侵犯你的权益请联系我们,我们将马上处理撤下所有相关内容！联系邮箱：server@dude6.com
