集成电路自动测试方法及可测性设计研究

Name: 集成电路自动测试方法及可测性设计研究
Rating: 4.5 (30 reviews)
Author: zq41648

上传者：zq41648 2020-08-29 01:31:03上传 PDF文件 3.94MB 热度 30次

集成电路自动测试方法及可测性设计研究,讲述集成电路的自动化测试方法与原理

下载地址

用户评论

更多下载

下载地址

立即下载

用户评论

集成电路自动测试方法及可测性设计研究

集成电路自动测试方法及可测性设计研究,讲述集成电路的自动化测试方法与原理

大小：3.94MB | 2020-08-29 01:31:03
数字集成电路可测性设计及验证方法学

数字集成电路可测性设计及验证方法学,不是很深入,简单的介绍了一下测试基础,语言,工具以及意义.主要内...

大小：0B | 2019-09-17 16:54:00
集成电路可测性设计面试必备资料.pdf

本试题为面试必备的可测性设计(DFT)基础部分知识点,请自行检测

大小：0B | 2019-09-17 16:54:06
集成电路面试必备之可测性设计的Rombist

随着半导体工艺的发展，可测性技术成为每个芯片在设计中必须考虑的问题，如何高效和高质量的测试芯片中的内...

大小：912.42KB | 2024-10-02 17:15:52
集成电路EMC测试方法

由于集成电路通过高速的脉冲数字信号来进行工作,工作频率越高产生的电磁骚扰频谱越宽,越容易引起对外辐射...

大小：119KB | 2020-12-31 18:05:01
集成电路封装设计可靠性提高方法研究

摘要:集成电路封装是集成电路制造中的重要一环,集成电路封装的目的有:第一,对芯片进行保护,隔绝水汽...

大小：185KB | 2020-10-28 07:22:48
VLSI测试方法学和可测性设计

VLSI test methodology and testability design

大小：0B | 2019-06-28 02:56:07
集成电路测试

集成电路测试相关知识的基本讲解,有对分类、方法、原则等的详细说明,是很好的PPT

大小：6.18MB | 2020-08-29 07:08:07
集成电路封装设计的可靠性提高方法研究

随着集成电路的发展,小型化与多功能成了大家共同追求的目标,这不仅加速了IC设计的发展,也促进了IC封...

大小：206KB | 2020-10-27 20:34:18
电子测量中的集成电路可测性设计中网表的解析与实现

1.前言随着微电子制造技术向深亚微米方向发展,数字集成电路的集成度也越来越高,而半导体工艺中可能引...

大小：151KB | 2020-12-23 02:53:17
详解超大规模集成电路自动测试向量生成

超大规模集成电路（VLSI）自动测试向量生成（Automatic Test Pattern Gene...

大小：5.59MB | 2024-10-02 17:07:31
模拟混合信号RF集成电路的自动测试诊断和调试技术.pdf

用于通信，多媒体和计算机应用的片上系统（SoC）最近受到了国际上的关注，比如单芯片收发器。现代微电子...

大小：3.27MB | 2020-07-26 04:15:56
论文研究高效率集成电路测试芯片设计方法.pdf

考虑到粒子群算法受初值影响，易于产生局部最优解的缺陷，将lsqcurvefit拟合方法与粒子群算法相...

大小：0B | 2020-04-28 22:21:29
集成芯片的可测性设计技术

0 引言随着集成芯片功能的增强和集成规模的不断扩大,芯片的测试变得越来越困难,测试费用往往比设...

大小：139KB | 2020-11-17 17:31:05
集成电路电磁干扰EMC测试方法

大小：0B | 2018-12-08 11:08:38
论文研究大规模集成电路中的可制造性设计研究.pdf

大规模集成电路中的可制造性设计研究，郑舒静，，本论文的目的在于寻求深亚微米制造工艺对集成电路设计和产...

大小：0B | 2019-09-04 00:48:49