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用于半导体可靠性的短脉冲强制性测试.pdf

上传者: 2020-08-21 15:54:33上传 PDF文件 381KB 热度 12次
开发IC让它能工作是一回事;而让它耐用就是另一回事了。随着新技术出现新的可靠性问题,后者变得越来越难。在封装之前,在晶圆上
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