1. 首页
  2. 移动开发
  3. 其他
  4. 基于单片机和FPGA的频率特性测试仪的设计

基于单片机和FPGA的频率特性测试仪的设计

上传者: 2020-08-21 12:08:25上传 PDF文件 391.87KB 热度 15次
该设计采用单片机和FPGA结合的方式。此方案采用FPGA测量相位差,而且便于制作DDS扫描信号源。
用户评论