频率特性测试仪设计方法

本系统以FPGA及DDS发生芯片AD9851为核心,通过AD637检测信号的有效值,并利用MSP430中自带的A/D芯片对有效值进行采集,通过将输入输出信号进行过零比较整形为方波后,进行相与,计数等操作得到相位差的占空比从而得到相频特性数据;使用双口RAM存储幅频和相频特性数据,最后通过LCD将所得的数据绘制成稳定的波形图