IC 的长期稳定性:唯一不变的是变化本身 上传者：m17246 2020-08-16 01:05:50上传 PDF文件 128.23KB 热度 8次 随着时间的推移,半导体材料的掺杂度以及封装对内部裸片产生的物理应力都会发生变化,这会导致产品的参数值发生偏移。这些偏移可在新产品质量认证过程中,通过测量生命周期测试过程中(在高温炉中执行的加速老化过程)的参数偏移进行量化。 下载地址 用户评论 更多下载 下载地址 立即下载 用户评论 发表评论 m17246 资源：428 粉丝：0 +关注 上传资源 免责说明 本站只是提供一个交换下载平台，下载的内容为本站的会员网络搜集上传分享交流使用,有完整的也有可能只有一分部,相关内容的使用请自行研究,主要是提供下载学习交流使用,一般不免费提供其它各种相关服务! 本站内容泄及的知识面非常广,请自行学习掌握,尽量自已动脑动手解决问题,实践是提高本领的途径,下载内容不代表本站的观点或立场!如本站不慎侵犯你的权益请联系我们,我们将马上处理撤下所有相关内容！联系邮箱：server@dude6.com
