CMOS集成电路潜在缺陷的最小电压检测 上传者：chenyu95400 2020-08-08 05:03:53上传 RAR文件 146.99 KB 热度 11次 有潜在问题的芯片在正常的条件下缺陷不会显现出来，但是在一定的条件下会产者间歇性失效，从而造成芯片早期失效的质量问题。最小电压是芯片正常运行所需电压值，合格芯片与不合格芯片的最小电压值是不一样的，因此利用最小电压检测检测出有潜在缺陷的芯片。 下载地址 用户评论 更多下载 下载地址 立即下载 用户评论 发表评论 chenyu95400 资源：454 粉丝：0 +关注 上传资源 免责说明 本站只是提供一个交换下载平台，下载的内容为本站的会员网络搜集上传分享交流使用,有完整的也有可能只有一分部,相关内容的使用请自行研究,主要是提供下载学习交流使用,一般不免费提供其它各种相关服务! 本站内容泄及的知识面非常广,请自行学习掌握,尽量自已动脑动手解决问题,实践是提高本领的途径,下载内容不代表本站的观点或立场!如本站不慎侵犯你的权益请联系我们,我们将马上处理撤下所有相关内容！联系邮箱：server@dude6.com
