BIST在SoC片上嵌入式微处理器核上的应用 上传者：qq_64428 2020-07-30 09:28:35上传 PDF文件 89.73KB 热度 56次 绍了SoC片上嵌入式微处理器核的一种测试技术——片内测试（BIST）。讲述了片上系统的由来以及两个重要特点。与传统的测试方法比较后，讨论了MemBIST、 LogicBIST等常用BIST测试技术的结构和特点，分析了这几种测试方法的优缺点。 下载地址 用户评论 更多下载 下载地址 立即下载 用户评论 发表评论
