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论文研究 基于级联电压开关逻辑的组合逻辑容错设计 .pdf

上传者: 2020-07-20 07:54:12上传 PDF文件 417.92KB 热度 13次
基于级联电压开关逻辑的组合逻辑容错设计,韩健,梁华国,随着集成电路工艺进入微纳尺度,组合逻辑电路的软错误率不断增加,电路的可靠性受到严重威胁。现有的逻辑门加固结构通常会带来较
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