外延氧化铟薄膜中的表面缺陷及其对薄膜电导率的影响 上传者：wangluhy 2020-07-17 20:34:26上传 PDF文件 702.08KB 热度 47次 外延氧化铟薄膜中的表面缺陷及其对薄膜电导率的影响，张玉杰，李志青，透明导电氧化物 (TCOs) 大多是宽禁带n 型半导体材料，如氧化锌、氧化铟、氧化锡。这类材料即使在不掺杂的情况下，其薄膜形状的电导� 下载地址 用户评论 更多下载 下载地址 立即下载 用户评论 发表评论
