Geometrical Structures and Electronic Properties of Si doped TiO2 上传者：bosstb 2020-07-17 05:11:42上传 PDF文件 271.76KB 热度 41次 硅掺杂二氧化钛的几何结构与电子性质，杨可松，戴瑛，利用基于平面波方法的自旋极化的密度泛函理论计算研究了硅掺杂的锐钛矿与金红石的二氧化钛的几何结构与电子性质。我们的计算结果 下载地址 用户评论 更多下载 下载地址 立即下载 用户评论 发表评论
