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论文研究 无关位在内建自测试方法中的研究与应用 .pdf

上传者: 2020-07-16 17:07:05上传 PDF文件 353.1KB 热度 22次
无关位在内建自测试方法中的研究与应用,周皓,邝继顺,本文提出了一种无关位在集成电路内建自测试(BIST)方法中的应用。根据无关位可以自由赋值的特性,在由被测电路自己施加测试矢量(T
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