基于FPGA的SRAM自测试研究

SRAM有高速和不用刷新等优点,被广泛用于高性能的计算机系统。由于半导体工艺技术的提高以及存储系统多方面的需要,存储器件日益向高速、高集成方向发展,在使系统功能强大的同时,也增加了系统的复杂性,给电路的故障诊断带来了不小的困难[12]。由于存储器功能和结构的复杂性,设计者为了正确地处理数据和正常地运行用户的程序,必须保证SRAM单元的寻址、取指令以及计算正确,对程序或数据存储单元的正确操作是很重要的方面,因此保证存储器的正常、稳定工作是系统稳定工作的前提。本文主要是通过对常见的SRAM故障问题的分析,运用March C算法,以FPGA构建成的SRAM自检测试电路对SRAM系统进行故障检测与修