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论文研究CMOS数字芯片互连设计中的串扰 .pdf

上传者: 2020-06-07 12:52:45上传 PDF文件 326.49KB 热度 21次
CMOS数字芯片互连设计中的串扰,贾琛,李玉山,随着深亚微米技术的发展,互连问题已经变为现今大规模数字电路和混合信号集成电路中的主要问题,它直接影响着电路的性能和可靠性
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