搜索一个衰减为φπ的类古怪结构Zs并测量横截面e + e→φππ

使用在质量中心为2.125GeV的BESIII检测器收集的对应于108pb-1的综合光度的e+e-碰撞数据的数据样本，我们研究了e+e-→ϕππ过程并进行了搜索Zs衰减成ϕπ在ϕπ质谱图中未观察到信号。确定在90％置信水平下Zs生产的横截面上限。另外，在2.125GeV处的e+e-→ϕπ+π-和e+e-→ϕπ0π0的横截面分别测量为（436.2±6.4±30.1）pb和（237.0±8.6±15.4）pb，第一个不确定性是统计性的，第二个不确定性是系统性的。