论文研究180nm CMOS工艺下温度对SET的影响 .pdf 上传者：Xieminsen 2020-05-15 17:39:12上传 .PDF文件 409KB 热度 46次 180nmCMOS工艺下温度对SET的影响，梁斌，刘凡宇，基于3D混合模拟，研究了180nmCMOS工艺下了温度对SET脉冲的影响。研究发现，温度对数字SET有重要影响。使用60MeV?cm2/mg的LET，当温度从-55℃ 下载地址 用户评论 更多下载 下载地址 立即下载 用户评论 发表评论
