X射线双晶衍射在半导体材料及结构分析中的应用

Name: X射线双晶衍射在半导体材料及结构分析中的应用
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Author: qq_75028

上传者：qq_75028 2020-05-13 15:51:17上传 PDF文件 835.55KB 热度 57次

X射线双晶衍射在半导体材料及结构分析中的应用，关志强，唐吉龙，X射线双晶衍射是半导体材料及结构的重要分析手段，广泛应用于半导体薄膜，超晶格及量子阱等材料和器件的性能表征方面。文章综述�

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