论文研究A Novel Aging Sensor with Function Reuse for Circuit Failure Prediction.pdf
一种新型的基于功能复用的老化预测传感器设计，史冬霞，梁华国，随着晶体管特征尺寸进一步减小，晶体管老化效应已成为影响集成电路可靠性的重要因素。由于晶体管的老化，电路时延逐渐增加，最终
下载地址
用户评论
