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论文研究一种新的由被测电路自己施加测试向量的BIST方法 .pdf

上传者: 2020-03-18 19:01:19上传 PDF文件 363.91KB 热度 20次
一种新的由被测电路自己施加测试向量的BIST方法,欧阳雄,邝继顺,本文提出一种适用于组合电路以及全扫描的时序电路的BIST测试方法。该方法将被测电路本身视为一种可利用的资源,而不仅仅是被测试��
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